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技術(shù)文獻 |
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為什么要對斷路器觸頭的運動速度進行測量? |
日期:2013/1/7 作者:admin 點擊:1935 |
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對斷路器觸頭的運動速度進行測量的原因如下: (1)斷路器分、合閘時,觸頭運動速度是斷路器的重要特性參數(shù),斷路器分、合閘速度不足將會引起觸頭合閘振顫,預擊穿時間過長。 (2)分閘時速度不足,將使電弧燃燒時間過長,致使斷路器內(nèi)存壓力增大,輕者燒壞觸頭,使斷路器不能繼續(xù)工作,重者將會引起斷路器爆炸。 (3)如果已知斷路器合、分閘時間及觸頭的行程,就可以算出觸頭運動的平均速度,但這個速度有很大波動,因為影響斷路器工作性能最重要的是剛分、剛合速度及最大速度。因此,必須對斷路器觸頭運動速度進行實際測量。 SF6斷路器內(nèi)氣體水分含量增大的原因,及嚴重超標的危害性。 SF6氣體中含水量增大的可能原因: (1)氣體或再生氣體本身含有水分。 (2)組裝時進人水分。組裝時由于環(huán)境、現(xiàn)場裝配和維修檢查的影響,高壓電器內(nèi)部的內(nèi)壁附著水分。 (3)管道的材質(zhì)自身含有水分,或管道連接部分存在滲漏現(xiàn)象,造成外來水分進入內(nèi)部。 (4)密封件不嚴而滲入水分。 水分嚴重超標將危害絕緣,影響滅弧,并產(chǎn)生有毒物質(zhì),原因如下: (1)含水量較高時,很容易在絕緣材料表面結(jié)露,造成絕緣下降,嚴重時發(fā)生閃絡(luò)擊穿。含水量較高的氣體在電弧作用F被分解,SF6氣體與 水分產(chǎn)生多種水解反應,產(chǎn)生WO3、CuF2、WOF4等粉末狀絕緣物,其中CuF2有強烈的吸濕性,附在絕緣表面,使沿面閃絡(luò)電壓下降,HF、 H2s03等具有強腐蝕性,對固體有機材料和金屬有腐蝕作用,縮短了設(shè)備壽命。 (2)含水量較高的氣體,在電弧作用下產(chǎn)生很多化合物,影響SF6氣體的純度,減少SF6氣體介質(zhì)復原數(shù)量,還有一些物質(zhì)阻礙分解物還原,滅弧能力將會受影響。 (3)含水量較高的氣體在電弧作用下分解成化合物w02SOF4、SO2F2、SOF2、sO2等,這些化合物均為有毒有害物質(zhì),而SOF2、sO2的含量會隨水分增加而增加,直接威脅人身健康,因此對SF6氣體的含水量必須嚴格監(jiān)督和控制。
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