高電壓測試設備通用技術條件
第2部分：沖擊電壓測量系統(tǒng)
2004-03-09發(fā)布 2004-06-01實施
中華人民共和國國家發(fā)展和改革委員會 發(fā) 布
目 次
前 言
本標準是根據(jù)原國家經(jīng)濟貿(mào)易委員會電力司《關于確認1999年度電力行業(yè)標準制、修訂計劃項目的通知》（電力[2000]22號）下達的《高電壓測試儀器通用技術條件》標準項目的制定任務安排制定的。
DL/TT846《高電壓測試儀器通用技術條件》是一個系列標準，本次發(fā)布9個部分：
——第1部分：高電壓分壓器測量系統(tǒng)；
——第2部分：沖擊電壓測量系統(tǒng)；
——第3部分：高壓開關綜合測試儀；
——第4部分：局部放電測量儀；
——第5部分：六氟化硫微量水分儀；
——第6部分：六氟化硫氣體檢漏儀；
——第7部分：絕緣油介電強度測試儀；
——第8部分：有載分接開關測試儀；
——第9部分：真空開關真空度測試儀。
本部分是DL/TT846《高電壓測試儀器通用技術條件》的第2部分。
沖擊電壓測量系統(tǒng)在國內(nèi)高壓實驗室被廠泛使用。相對交流電壓和直流電壓測量系統(tǒng)，沖擊電壓測量系統(tǒng)的準確度最難控制和保證，為了保證該測量系統(tǒng)的測量準確度，特制定本部分。
本部分是根據(jù)GB/T16927.2—1997而編寫的。GB/T16927.2—1997是對所有測量系統(tǒng)而言的，本部分集中了沖擊測量部分。關于名詞術語和性能記錄部分本部分未列入，以免重復。GB/Ｔ16927.2—1997中對于測量標定刻度因數(shù)可用電橋法，但對于沖擊電壓測量系統(tǒng)（以下簡稱沖擊測量系統(tǒng)）該方法不可行，所以在本部分中不采用。
本部分的附錄A為資料性附錄。
本部分由中國電力企業(yè)聯(lián)合會提出。
本部分由全國高壓電氣安全標準化技術委員會歸口。
本部分起草單位：武漢高壓研究所、深圳供電公司、佛山供電公司。
本部分主要起草人：朱同春、蔡崇積、李漢民、鐘連宏。
高電壓測試設備通用技術條件
第2部分：沖擊電壓測量系統(tǒng)
1 范圍
DL/T846的本部分規(guī)定了沖擊測量系統(tǒng)應瞞足的要求、沖擊測量系統(tǒng)及其組件的認可和校核方法以及系統(tǒng)被證實滿足本部分要求的程序。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過DL/T 846的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括堪誤內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。
GB/T311.6 高壓試驗技術 第五部分 測量球隙 EQVIEC60052-6
GB/T813—1989 沖擊試用示波器和峰值電壓表
GB/T 16927.1 高電壓試驗技術 第一部分：一般試驗要求
GB/T16927高電壓試驗技術 第二部分：測量系統(tǒng)
GB/T1689高電壓沖擊試驗用數(shù)字記錄儀 第一部分：對數(shù)字記錄儀的要求
1：1991
3 在案認可的沖擊測量系統(tǒng)的性能記錄
3．1 總則
認可的沖擊測量系統(tǒng)需驗收試驗和校驗，通常需作以下試驗：
a）系統(tǒng)組件的驗收試驗（僅需一次）；
b）系統(tǒng)的周期性性能試驗；
c）系統(tǒng)的定期校核。
所有試驗和校核結果以及所處的記錄均應保存在由使用者建立并保存的性能記錄中，性能記錄的完整格式按照GB/T16927.2—1997 附錄B建立。
對于本部分發(fā)布前所制造的設備或裝置，如果沒有驗收試驗所需證明文件，則用按本部分進行試驗的記錄連同按以前標準進行校核的證明文件，說明刻度因素是穩(wěn)定的。這樣就認為是滿足要求的。
工程由幾件可互換使用的裝置組成的認可的沖擊測量系統(tǒng)應包括各種組合的獨記錄，并盡可能少用復印件。確切地講，每一裝置應單獨記錄，而傳輸系統(tǒng)和儀器一般要指明電纜（或光纜）長度及能滿足相應標準的替代性指示儀器。
3．2 性能記錄格式
性能記錄格式推薦如下：
第A章：系統(tǒng)的一般說明。
第B章：轉(zhuǎn)換裝置、傳輸系統(tǒng)和測量儀器的驗收試驗結果。
第C章：全套測量系統(tǒng)上進行過的例行試驗結果。
第D章：系統(tǒng)性能試驗結果。
第E章：性能校核結果。
以上各章均可加序數(shù)表示。例如Al章為系統(tǒng)最初的一般說明；A2章為系統(tǒng)有顯變動后的說明；Dl章為初始性能記錄；D2章為第二次性能試驗記錄。
全套測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)總是列在最近一次的D章中。
4 試驗程序和一般要求
4．1 號總則
沖擊測量系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換裝置、傳輸系統(tǒng)、測量儀器的主要要求是在規(guī)定的工條件范圍內(nèi)應穩(wěn)定，這樣沖擊測量系統(tǒng)的刻度因數(shù)在長時間內(nèi)就可保持穩(wěn)定。
4．2 對轉(zhuǎn)換裝置的試驗
4．2.1 刻度因數(shù)確定
按下列方法之一確定轉(zhuǎn)換裝置的刻度因數(shù)：
a）同時測量轉(zhuǎn)換裝置的輸入和輸出量；
b）測量高壓臂和低壓臂的阻抗值，通過計算求分壓比。
4．2．2 線性度試驗
在系統(tǒng)的被認可電壓范圍內(nèi)的最大和最小值之間以及其間三個大致等分值下，測量轉(zhuǎn)換裝置的刻度因數(shù)，測得值的變化不應超過其平均值的±1%（該試驗可在適當?shù)陌ㄔ跊_擊測量系統(tǒng)中的轉(zhuǎn)換裝置上進行，或在測量系統(tǒng)上進行）。
該試驗的標準方法是按照4.5.2與標準沖擊測量系統(tǒng)相比對。
替代試驗如下：
a）己按標準方法確定了線性度的認可的沖擊測量系統(tǒng)可被用來代替標準沖擊測量系統(tǒng)；
b）在既無標準沖擊測量系統(tǒng)又無認可的沖擊測量系統(tǒng)時，線性度試驗可按本部分6.2.2所述方法之一進行。
4.2.3 短期穩(wěn)定性試驗
對轉(zhuǎn)換裝置連續(xù)地施加額定電壓至最大沖擊次數(shù)，在施加電壓前和后分別測量刻度因數(shù)，測得值之差應在±1%之內(nèi)。
除非另有規(guī)定，沖擊測量系統(tǒng)的最大施加次數(shù)應為2次/min。
在大多數(shù)情況下施加次數(shù)可由轉(zhuǎn)換裝置的型式試驗連同附在性能記錄內(nèi)的計算而確定。
4.2.4 單個元件的長期穩(wěn)定性
單個元件的穩(wěn)定性、電壓效應、溫度效應由制造廠提供或由型式試驗確定。這些特性不應使轉(zhuǎn)換裝置的刻度因數(shù)在逐次性能試驗之間的變化大于1%。
4.2.5 溫度效應
環(huán)境溫度的變化引起的轉(zhuǎn)換裝置刻度因數(shù)或參數(shù)（電阻或電容）的變化，可利用單個元件溫度系數(shù)的計算或在不同溫度下測量來確定。溫度系數(shù)可以取自制造廠的數(shù)據(jù)，并可列在性能記錄中。
在環(huán)境溫度變化很大的情況下，可使用溫度校正系數(shù)。所采用的溫度校正應列入性能記錄中。無論何種情況都應證實計及溫度校正后，刻度因數(shù)的變化仍應在±1%范圍內(nèi)。
4.2.6 接地墻（或帶電體）的鄰近效應
鄰近效應引起的轉(zhuǎn)換裝置刻度因數(shù)或參數(shù)的變化可通過測量來確定。測量時可改變裝置對一面接地墻（或一個帶電體）的距離，而其他接地墻或帶電體的距離保持不變，或?qū)⑵渲糜诠ぷ鞣秶狻?/P>
對于性能記錄所列的各種距離范圍，都應證實刻度因數(shù)的變化仍在±1%范圍內(nèi)。
注：一些測試實驗室可選擇在一組距離，或幾組距離的情況下進行認可。
4.2.7 變轉(zhuǎn)換裝置的動態(tài)特性
轉(zhuǎn)換裝置的動態(tài)特性測定可以將該裝置置于一個典型使用條件的沖擊測量系統(tǒng)中進行。
4.2.8 測定階躍波響應
對被試系統(tǒng)輸入階躍電壓，按GB/T16927.2—1997附錄C測量其輸出。
4.2. 9 耐壓試驗
轉(zhuǎn)換裝置應通過 110%的額定值的干耐受試驗，試驗電壓的波形要滿足規(guī)定。試驗程序見GB/T16927.1。
耐受試驗應在系統(tǒng)需使用的每個極性下進行。
注：認可的測量系統(tǒng)的每一組件均應能耐受住在試品上發(fā)生的破壞性放電而其特性無任何改變。
4.3 傳輸系統(tǒng)的試驗
帶有源元件的傳輸系統(tǒng)的試驗參照4.2所列程序進行。
4.4 指示儀表或記錄儀器的試驗
根據(jù)相應的國家標準或檢定規(guī)程對儀器儀表進行測試和檢定，若無標準或檢定規(guī)程，則按4.2所列相應程序進行。
4.5 性能試驗
4.5.1 一般要求
性能試驗的目的是確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)，并證明其動態(tài)特性適合規(guī)定的要求以及其干擾水平小于固定極限。高壓試驗中，由于裝置的尺寸、試驗回路的相互干擾，進行現(xiàn)場校準是必須的。沖擊測量系統(tǒng)或它們的組件可以在其他實驗室模擬性能記錄所述條件進行校準，但干擾水平必須在用戶實驗室中檢查（若需要的話）。試驗布置應代表運行條件并在性能記錄中說明。
除非型式試驗證實轉(zhuǎn)換裝置在規(guī)定的凈距范圍內(nèi)對鄰近效應并不敏感，否則由轉(zhuǎn)換裝置組成的每一測量系統(tǒng)的刻度因數(shù)都應測量，每組凈距或凈距范圍都應記入性能記錄內(nèi)。
確定刻度因數(shù)的標準方法是在最大工作電壓下與標準測量系統(tǒng)比對，見4.5.2a）。由于較高電壓的標準測量系統(tǒng)難以獲得，因而可在低的電壓，如20%最高工作電壓下進行比對 超過lMV的雷電沖擊，可在200kV下進行比對。確定標定刻度因數(shù)的電壓應在線性度試驗所覆蓋的范圍內(nèi)。此外，可根據(jù)測得的每一組件的刻度因數(shù)（通常在低電壓下測量），取其乘積來確定系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)，見4.5.2b），
確定沖擊測量系統(tǒng)刻度因數(shù)所用裝置必須進行校準，沖擊測量系統(tǒng)中所用全部儀器儀表都必須檢定，他們的量值應溯源到國家標準。
4.5.2 確定沖擊測量系統(tǒng)標定刻度因數(shù)
應采用標準方法來測量標定刻度因數(shù)，但也可采用替代法，只要能獲得滿意結果。校準用輸入電壓的類型、波形必須與被測量的相同。若此條件不滿足，則應提供標定刻度因數(shù)所適用波形的證明文
件。
校準時的條件應記入性能記錄中。
4.5.2.1 和標準測量系統(tǒng)相比對的標準方法
試驗時要同時讀取兩個系統(tǒng)的讀數(shù)。由標準沖擊測量系統(tǒng)得到的讀數(shù)通過計算得到輸入量，再除以被試沖擊測量系統(tǒng)的儀器讀數(shù)，就得到系統(tǒng)標定刻度因數(shù)F值。試驗重復n次（n≥l0），可得到n個獨立讀數(shù)Fi。取平均值Fav作為系統(tǒng)標定刻度因數(shù)，其實驗標準偏差s應小于Fav的1%：
(1)
注1：假如一個估算值F0引入公式中Fav的位置，得到的標準偏差也不大于Fav的1%,那么這個F0也可作為標定刻度因數(shù)。
注2：對于沖擊測量系統(tǒng)，施加n次沖擊。
試驗應在同一電壓水平下進行，最好在額定電壓下，至少在不低于20%額定電壓下進行，但必須保證此電壓在線性度試驗覆蓋的范圍。為了獲得合適的靈敏度，測量儀器的靈敏度設置可改變，也可采用不同儀器，但這些變化不能使系統(tǒng)的其他部分改變，儀器的每一檔靈敏度都要經(jīng)過校準。
如果只有一臺儀器可供使用（該儀器是認可的沖擊測量系統(tǒng)所使用的，而且符合有關標準要求），試驗時可將該儀器依次交替地接到每一系統(tǒng)，而系統(tǒng)的其他組成部分應保持不變。
如果測量系統(tǒng)有幾個刻度因數(shù)（例如分壓器有幾個低壓臂時），每個刻度因數(shù)都應進行試驗。
注3：對于采用二次分壓器的沖擊測量系統(tǒng)，如果通過其他試驗能證實轉(zhuǎn)換裝置的等值阻抗等于二次分壓器，可以只進行一個靈敏度檔的試驗。此時，二次分壓器的所有靈敏度檔都應分別試驗。
注4：通用示波器的探頭作為二次分壓器使用可能不夠穩(wěn)定，特別是這種探頭部件的細小移動可能改變其補償。
4.5.2.2 組件校正的替代方法
標定刻度因數(shù)可以用沖擊測量系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換裝置、傳輸系統(tǒng)、測量儀器的刻度因數(shù)的乘積來確定。
轉(zhuǎn)換裝置和傳輸系統(tǒng)或兩者的組合的標定刻度因數(shù)用4.2.1中介紹的方法確定并確保它們的總不確定度應不大于1%。儀器的刻度因數(shù)根據(jù)響應的標準確定，校準時要計及各組件的相互影響。
4.5.3 動態(tài)特性試驗
應當采用標準方法測量動態(tài)特性，也可采用替代法，只耍能獲得滿意結果。校準用輸入電壓的波形必須與被測值相同。若此條件不滿足，則應提供標定刻度因數(shù)所適用波形的證明文件。
所用的回路布置和說明，包括凈距和高壓引線的長度都應列入性能記錄中。
4.5.3.1 與標準沖擊測量系統(tǒng)比對的標準方法
可利用4.5.2a）試驗所得的相同記錄并評估每個系統(tǒng)所測得的有關沖擊的各時間參數(shù)，被試系統(tǒng)應滿足以下要件：
a）兩個系統(tǒng)測得的每一時間參數(shù)的差值應在由標準沖擊測量系統(tǒng)測得的相應值的±10%的范圍內(nèi)；
b）對于每一時間參數(shù)，被試系統(tǒng)與標準沖擊測量系統(tǒng)相應讀數(shù)之比值的實驗標準偏差，均應小于其平均比值的5%。
4.5.3.2 階躍波響應測量的替代方法
按4.2.8測量被試系統(tǒng)的階躍波響應，并求響應參數(shù)，這些參數(shù)應滿足本部分相應條款中提出的要求。
4.5.4 干擾試驗
試驗在沖擊測量系統(tǒng)上進行，試驗時電纜或傳輸系統(tǒng)輸入端短妝，電纜或傳輸系統(tǒng)的接地線不變。應施加一個典型的沖擊波形，使沖擊測量系統(tǒng)的輸入發(fā)生破壞性放電并記錄其輸出。試驗應在最高工作電壓下進行。
測到的干攏幅值應小于1%的沖擊測量系統(tǒng)測此電壓時的輸出，干攏幅值大于1%也是允許的，但應證實它對測量無影響。
其它途徑的干擾也是重要的，例如分壓器高壓臂的低壓端的干攏。
5 認可的沖擊測量系統(tǒng)的鑒定和使用
5.1 沖擊測量系統(tǒng)的鑒定
測試實驗室應采用本章所列的試驗來鑒定其沖擊測量系統(tǒng)。此外，測試實驗室可選擇由國家實驗室或論證過的實驗室進行性能試驗。在此情況下，每次校準的有效期由國家實驗室或論證機構規(guī)定。
每一測量系統(tǒng)均應經(jīng)過驗收試驗（只進行一次）、定期重復性性能試驗（見5.3）和經(jīng)常重復的性能校核（見5.4）。沖擊測量系統(tǒng)所應進行的試驗參見附錄A。
5.2 使用條件
認可的沖擊測量系統(tǒng)應直接與試品兩端相連，連接時應使試驗回路之間的雜散耪合減至最小。
在干燥的無污穢的工作條件下，認可的沖擊測量系統(tǒng)一般都可在所要求的不確定度范圍內(nèi)使用。
5.3 性能試驗
為保持沖擊測量系統(tǒng)的特性，應定期地重復4.5的性能試驗而確定其標定刻度因數(shù)。建議每年重復一次，有時可延長，但每三年至少重復一次。
沖擊測量系統(tǒng)經(jīng)過較大修理以及系統(tǒng)布置超出記錄中規(guī)定范圍后必須進行性能試驗。
由于性能校核中發(fā)現(xiàn)標定刻度因數(shù)己明顯變化而必須進行性能試驗時，應先研究發(fā)生變化的原因（見6.4和7.4）。
5.4 性能校核
應根據(jù)沖擊測量系統(tǒng)穩(wěn)定性的時限進行性能校核。為了確定系統(tǒng)的穩(wěn)定性，系統(tǒng)剛投入使用時應經(jīng)常進行性能校核。性能校核如6.4，7.4所述。
6 雷電沖擊電壓測量
6.1 認可的沖擊測量系統(tǒng)的要求
一般要求是：
a）測量沖擊全波峰值的總不確定度不大于±3垢。
b）mm沖擊截波的總不確定度取決于截斷時間TC，當0.5µs≤TC<2µs，總不確定度不大于±5%；當Tc≥2µs時，總不確定度不大于±3%。
c）測量沖擊波形時間參數(shù)的總不確定度不大于±10%。
d）測量可能疊加在沖擊波上的振蕩不應超過GB/T16927.1所列的水平。
6.1.1 刻度因數(shù)的穩(wěn)定性
在性能記錄中所列的環(huán)境溫度和凈距的范圍內(nèi)，轉(zhuǎn)換裝置和傳輸系統(tǒng)的刻度因數(shù)的變化范圍不應大于±1%。
記錄儀器的準確度應滿足GB/T813和GB/T16896.1的要求。
6.1.2 動態(tài)特性
滿足以下條件，沖擊測量系統(tǒng)的動態(tài)特性就適合于測量在性能記錄內(nèi)規(guī)定的波形的峰值電壓和時間參數(shù)：
a）刻度因數(shù)穩(wěn)定在一定范圍內(nèi)，這些范圍是：對全波和2µs后截斷的截波為±1%；在0.5µs~2µs之間截斷的截波為±3%。
b）測得的時間參數(shù)的不確定度在±10%范圍內(nèi)。
c）為重現(xiàn)可能疊加在沖擊上的振蕩，測量系統(tǒng)的上限頻率f2或其部分響應時間Ta應滿足：對于峰值上的振蕩，f2>5MHz或Ta<30ns；對于波前振蕩，f2>l0MHz或Ta<l5ns。
按以往的概念，采用一個測量系統(tǒng)就可測量所需的全部參數(shù)（即峰值、時間參數(shù)、振蕩）。然而，許多系統(tǒng)只能被認可用于測量峰值和時間參數(shù)，并不能認可用于測量振蕩。在這種情況下，可以認可一個測量系統(tǒng)用于測量峰值電壓和時間參數(shù)，而認可一輔助測量系統(tǒng)用于測振蕩（假如需要，在較低電壓下測量）。
6.1.3 與試品的連接
認可的測量系統(tǒng)應直接接到試品端。對于沖擊測量，認可的測量系統(tǒng)不應插到電壓源和試品之間，以便其引線僅僅流過測量系統(tǒng)的電流。如測量系統(tǒng)不能這樣連接，則必須在運行記錄中強調(diào)指明。試驗回路和測量回路的藕合應減到最小。
6.2 認可的沖擊測量系統(tǒng)組件的驗收試驗
為通過驗收試驗，測量系統(tǒng)組件均應滿足本條所列的型式試驗和例行試驗要求。通常在同類產(chǎn)品的單件上做試驗，以驗證制造廠的數(shù)據(jù)是否滿足型式試驗的要求。每一組件都應進行例行試驗，詳見第4章和3.1。
型式試驗：
a）轉(zhuǎn)換裝置和傳輸系統(tǒng)及其刻度因數(shù)的溫度效應（可按元件的測量值或制造廠的數(shù)據(jù)進行計算）；
b）長期穩(wěn)定性試驗；
c）鄰近效應試驗；
d）轉(zhuǎn)換裝置的濕耐受和污穢耐受試驗（被要求時）；
e）最大施加次數(shù)試驗；
f）傳輸系統(tǒng)的干擾試驗（被要求時）；
g）動態(tài)特性試驗。
例行試驗：
a）確定刻度因數(shù)；
b）線性度試驗；
c）短期穩(wěn)定性試驗；
d）轉(zhuǎn)換裝置的干耐受試驗
6.2.1 確定刻度因數(shù)
轉(zhuǎn)換裝置和帶有源元個前傳輸系統(tǒng)的刻度因數(shù)應根據(jù)4.2.1中民列的某方法確定。
6.2.2 線性度試驗
線性度試驗應在統(tǒng)的每一極性下用一種波形進雷電沖擊全'可用確定雷電沖擊截波用測量系統(tǒng)的線性度。4.2.2的線性度試驗按如下進行。
a）標準方法：與標準測量系統(tǒng)相比，見4.2.2。
此外，也可用下述方法之一：
b）與認可的測量系統(tǒng)比對，見4.2.2。
c）與標準測量裝置比對。測量系統(tǒng)應符合GB/T 311.6，又用放電火花照（例如沖擊發(fā)生器的放電球隙）的球隙相校核。不可認為用紫外線燈照射就足夠了。試驗應在被認系統(tǒng)電壓范圍內(nèi)的最大和最小值的間隙距離以及期間三個大致等分的間隙距離下進行。整個試驗應在短時間內(nèi)進行，這樣就不必進行條件修正。如果每一球隙的破壞性放電電壓與被試系統(tǒng)相應輸出電壓之比在其平均值 （1±1%）范圍內(nèi)變化，則認為該系統(tǒng)是線性的。
注：當符合上述特定條件時，球隙破壞性放電電壓的偏差可在±1%之內(nèi)。
d）與充電電壓比對。應對照沖 擊發(fā)生器的充電電壓來校核測量系統(tǒng)。試驗應在被認可系統(tǒng)電壓范圍內(nèi)的最大和最小值以及其間三個大致等分的電壓下進行。如果每一測量電壓與響應充電電壓之比值均在其平均值 （1±1%）范圍內(nèi)變化，則認為該系統(tǒng)是線性的。
注：進行此項試驗時，在沖擊發(fā)生器點火的瞬間，充電條件應保持恒定。
e）多級轉(zhuǎn)換裝置的特定試個相同單元組成的裝置，叢按下述三個步驟進行：
1）按4.2.2規(guī)定，對一個等同完整的轉(zhuǎn)換裝置（裝有高壓級）進行型式試驗。
2）在4.2.2規(guī)定的五個電壓下測量每一單元的刻度因數(shù)。在整個電壓范圍內(nèi)，每一單元的刻度因數(shù)變化不應超過±1%。
3）組裝的轉(zhuǎn)換裝置在最大工作電壓下應無可見電暈。
c）、d）、e）的試驗都是一種經(jīng)濟簡便的試驗，但不滿足。c）、d）、e）的試驗要求也未必表示測量系統(tǒng)是非線性的，在此情況下，就應采用a）或b）試驗。符合a）或b）試驗的極限要求的測量系統(tǒng)，盡管曾不滿足c）、d）、e）試驗的極限要求，也應認為是線性的。
6.2.3 測量階躍波響應（被要求時）
轉(zhuǎn)換裝置的階躍波響應應在能代表其工作條件（特別是對接地體和帶電體的凈距）的完整測量系統(tǒng)上進行測定。
試驗可在低電壓下進行，階躍波源的內(nèi)阻應小于被試系統(tǒng)輸入電阻的0.1%。
此外，可進行頻率響應試驗來證實上限頻率是足夠高的。
6.2.4 鄰近效應
接地體和帶電體的影響可由型式試驗來說明，其結果列成曲線和表格，表示轉(zhuǎn)換裝置刻度因數(shù)與其對接地體或帶電體凈距的函數(shù)關系。
6.3 性能試驗
應做下列試驗：
a）確定測量系統(tǒng)標定刻度因數(shù)試驗；
b）動態(tài)特性試驗；
c）干擾試驗。
6.3.1 確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)和標稱瞬間（動態(tài)特性）
6.3.1.1 標準方法
應采用4.5.2a）和4.5.3所列程序與標準測量系統(tǒng)相比對來確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)和動態(tài)特性。應采用兩個不同波形的沖擊來確定標稱瞬間，例如：
對于沖擊全波：
——較短的波前時間賦予tmin，見GB/T 16927.2—1997的3.6.1；
——較長的波前時間賦予tmax；
——這兩種波形都應有測量系統(tǒng)被認可的最長半峰值時間。
這些波形也包括2µs后截斷的沖擊截波。
對于截斷時間為0. 5µs~2µs范圍內(nèi)的沖擊截波：
——較短的截斷時間賦予tmin；
——較長的截斷時間賦予tmax。
試驗所涉及的使用條件均應列入性能記錄內(nèi)。
此外，也可采用6.3.1.2或6.3.1.3方法之一進行。
6.3.1.2 用同一種波形進行比對測量
應按4.5.2a）和4.5.3采用同一種波形和標準測量系統(tǒng)進行比對測量。若采用沖擊全波，波前時間應選在所要求的標稱瞬間內(nèi)，而半峰值時間則應為被認可測量系統(tǒng)的最長半峰值時間。此波形也包括2µs以后截斷的沖擊截波。對于截斷時間為0.5µs~2µs范圍內(nèi)的沖擊截波，截斷時間應選在0.5µs~0.9µs的范圍內(nèi)。測量系統(tǒng)的階躍波響應除了應按4.2.8記錄外，還應符合下述要求：
a）對于沖擊全波和2µs后截斷的沖擊截波，階躍波響應在tmin~tmax總范圍內(nèi)應保持穩(wěn)定在±1%之內(nèi)，而且在tmin~tmax范圍內(nèi)的變化不應大于5%，tmax為被認可系統(tǒng)的最長半峰值時間。此外，若在標稱瞬間內(nèi)的階躍波響應上有高頻振蕩時，則足以證明穩(wěn)定時間ts是小于tmin的。
b）對于截斷時間為0.5µs~2µs范圍內(nèi)的沖擊截波，階躍波響應在tmin~tmax范圍內(nèi)應保持穩(wěn)定在（1±3%）以內(nèi)。
此外，若在標稱瞬間內(nèi)的階躍響應上有高頻振蕩時，則足以證明在整個標稱瞬間剩余響應時間Tt（t）是小于t/200的。
6.3.1.3 測量各組件的刻度因數(shù)并由系統(tǒng)階躍波響應確定響應參數(shù)
應按4.5.2b）確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)。試驗所涉及的工作條件范圍應列在性能記錄內(nèi)。應按4.2.8記錄測量系統(tǒng)的階躍波響應從tmin至Tp的范圍內(nèi)應穩(wěn)定在（1±1%）范圍內(nèi)。Tp為測量標定刻度因數(shù)時所用波形的峰值時間（例如，如果是采用lkHz交流電壓，則Tp為250µs。假如使用直流電壓，則Tp被認定為l00ms）。
對于沖擊全波和2µs后截斷的沖擊截波，響應在標稱瞬間段內(nèi)應穩(wěn)定在（1±1%）范圍內(nèi)。此外，若階躍波響應上有高頻振蕩，就足以證明穩(wěn)定時間是小于tmin的。對于截斷時間為0.5µs~2µs范圍內(nèi)的沖擊截波，階躍波響應在標稱瞬間內(nèi)應穩(wěn)定在（1±3%）范圍內(nèi)。此外，若階躍響應上有高頻振蕩時，則足以證明在整個標稱瞬間剩余響應時間Tt（t）是小于t/200的。
此外，階躍波響應在認可的最長半峰值時間段內(nèi)偏離基準水平不應大于5%。
注：提出下列推薦有助于各實驗室評定其測量系統(tǒng)，應強調(diào)，符合這些推薦（也許未必需要）未必足以確保測量系統(tǒng)動態(tài)特性的要求。
測量波前時間為T1的標準沖擊電壓時，過沖β和Ta/T1的關系點均在圖1的陰暗面內(nèi)。
圖1 過沖β和Ta/T1的限值關系
在測截斷時間為R范圍內(nèi)的波前截斷的沖擊截波時，應符合下列條件：
——穩(wěn)定時間 ；
——實驗響應時間 和部分響應時間 應為： ；
——起始畸變 應足夠小， ；
利用階躍波響應來評定測量系統(tǒng)的特性時，性能記錄應包括：
——單位階躍波響應記錄，應標出 和相應于每一參考水平的水平線；
—— 和 值。
6.3.2 測量階躍波響應（被要求時）
轉(zhuǎn)換裝置的階躍波響應應在能代表其工作條件（特別是對接地體或帶電體的凈距）的完整測量系統(tǒng)上進行測定。
試驗可在低電壓進行。階躍波源內(nèi)阻應小于被試系統(tǒng)輸入電阻的1‰。
6.3.3 干擾試驗
按4.5.4進行。
6.4 性能校核
目前還尚無標準方法來進行性能校核，這是由于其準確度達不到性能校核所需要求。使用者需要較高準確度時，應更為頻繁地（超過本部分要求）重復性能試驗。
可采用下述方法之一校核認可的測量系統(tǒng)的刻度因數(shù)和動態(tài)特性：
a）與認可的測量系統(tǒng)比對。應采用4.5.2a）和4.5.3所列程序，在同一種波形下與另一認可的測量系統(tǒng)（或標準測量系統(tǒng)）進行比對。施加的沖擊次數(shù)可在1到最近一次性能試驗所施加的次數(shù)之間選擇。如果兩者測得的刻度因數(shù)之差不大于3%，則可認為該刻度因數(shù)是有效的。如果差值較大，則應再次確定標定刻度因數(shù)（見5.3），
b）校核組件的刻度因數(shù)和測量系統(tǒng)的階躍波響應，應采用確定度不大于±1%的內(nèi)部或外部校準器校核每一組件的刻度因數(shù)。如果刻度因數(shù)與其前值之差不大于1%，則可認為該標定刻度因數(shù)是有效的。如果有一個差值超過±1%，則應再次確定標定刻度因數(shù)（見6.2.1）。每次校核時階躍波響應的記錄應與原先校核記錄相比較�？梢灶A料，每次校核會發(fā)現(xiàn)有小的變化。合格的變化量應由早期的校核而確定。任何較大的變化都應先查明而后進行性能試驗。
c）用標準測量裝置校核刻度因數(shù)和測量系統(tǒng)的階躍波響應，應與符合GB/T 311.6又用火化照射的球隙進行比對。不可認為用紫外線燈照射就足夠了。當兩個刻度因數(shù)測得值的差不大于3%時，則可認為刻度因數(shù)是有效的，若差值較大，則應再次確定標定刻度因數(shù)。每次校核時，階躍波響應的記錄應與原先校核記錄相比較。可以預料，每次校核會發(fā)現(xiàn)有小的變化。合格的變化量應由早期的校核而確定。任何較大的變化都應先查明而后進行性能試驗。
6.5 標準測量裝置
符合GB/T 311.6又用放電火花照射的球隙是測量標準雷電沖擊電壓峰值的標準測量裝置，其不確定度不大于±3%。應注意不可認為用紫外線燈照射就足夠了。
7 操作沖擊電壓測量
7.1 認可的沖擊測量系統(tǒng)的要求
一般要求是：
a) 測量操作沖擊峰值的總不確定度不大于±3%
b) 測量操作沖擊波形時間參數(shù)的總不確定主不大于±10%。
7.1.1 刻度因數(shù)的穩(wěn)定性
在性能記錄中所列的環(huán)境溫度和凈空距離的范圍內(nèi)，轉(zhuǎn)換裝置和傳輸系統(tǒng)的刻度因數(shù)的變化范圍不應大于±1%。
記錄儀器的準確度應滿足GB/T 813和GB/T 16896.1的要求
7.1.2 動態(tài)特性
在下列情況下，測量系統(tǒng)的動態(tài)特性是滿足要求的：
a）在性能記錄所規(guī)定的范圍內(nèi)，標定刻度因數(shù)穩(wěn)定在±1%范圍內(nèi)；
b）系統(tǒng)測得的時間參數(shù)的不確定度不大于±10%。
7.1.3 和試品的連接
認可的測量系統(tǒng)應直接接到試品端。與測量雷電沖擊電壓相反，測量操作沖擊電壓測量系統(tǒng)可插接至電壓源和試品之間。試驗回路和測量回路的秸合應減到最小。
7.2 認可的測量系統(tǒng)組件的驗收試驗
為通過驗收試驗，測量系統(tǒng)組件均應滿足本條所列的型式試驗和例行試驗要求。通常用在同類產(chǎn)品的單件上做試驗或按制造廠的數(shù)據(jù)可滿足型式試驗的要求。每一組件都應進行例行試驗。詳見第4章和3.1。
型式試驗：
a）轉(zhuǎn)換裝置和傳輸系統(tǒng)及其刻度因數(shù)的溫度效應（可按元件的測量值或制造廠的數(shù)據(jù)進行計算）；
b）長期穩(wěn)定性試驗；
c）鄰近效應試驗（被要求時）；
d）轉(zhuǎn)換裝置的濕耐受和污穢耐受試驗（被要求時）；
e）最大施加次數(shù)試驗；
f）傳輸系統(tǒng)的干擾試驗（被要求時）；
g）動態(tài)特性試驗。
例行試驗：
a）確定刻度因數(shù)；
b）線性度試驗；
c）短期穩(wěn)定性試驗；
d）轉(zhuǎn)換裝置的干耐受試驗。
7.2.1 確定組件刻度因數(shù)
轉(zhuǎn)換裝置和帶有源元件的傳輸系統(tǒng)的刻度因數(shù)應根據(jù)4.5.1中所列的某種方法確定。
7.2.2 線性度試驗
線性度試驗應在被認可系統(tǒng)的每一極性下進行。4.2.2的線性度試驗應按如下方法進行：
a）標準方法：與標準測量系統(tǒng)相比對，見4.5.2。
此外，也可用下述方法之一：
b）與認可的測量系統(tǒng)比對，見4.5.2。
c）與標準測量裝置比對。測量系統(tǒng)應與符合GB/T 311.6，又用放電火花照射（例如沖擊發(fā)生器的放電球隙）的球隙相校核。不可認為用紫外線燈照射就足夠了。試驗應在被認可系統(tǒng)電壓范圍內(nèi)的最大和最小值的間隙距離以及其間三個大致等分的間隙距離下進行。整個試驗應在短時間內(nèi)進行，這樣就不必進行大氣條件修正。如果每一球隙的破壞性放電電壓與被試系統(tǒng)相應輸出電壓之比在其平均值的（1±1%）范圍內(nèi)變化，則認為該系統(tǒng)是線性的。
球隙的操作沖擊破壞性放電電壓（50%破壞性放電電壓值）可取自GB/T311.6所列相同極性雷電沖擊電壓的圖表。
注：當符合上述特定條件時，球隙破壞性放電電壓的偏差可在±1%之內(nèi)。
d）與充電電壓比對。應對照沖擊發(fā)生器的充電電壓來校核測量系統(tǒng)。試驗應在被認可系統(tǒng)電壓范圍內(nèi)的最大和最小值以及其間三個大致等分的電壓下進行。如果每一測量電壓與相應充電電壓之比值均為其平均值的（1±1%）范圍內(nèi)變化，則認為該系統(tǒng)是線性的。應利用標準測量系統(tǒng)或認可的測量系統(tǒng)來測充電電壓。
注：進行此項試驗時，在沖擊發(fā)生器點火的瞬間，充電條件應保持，垣定。
e）多級轉(zhuǎn)換裝置的特定試驗。對于由幾個相同單元組成的轉(zhuǎn)換裝置，應按下述三個步驟進行：
1）按4.5.2規(guī)定，對一個等同完整的轉(zhuǎn)換裝置（裝有高壓極）進行型式試驗。
2）在4.2.2規(guī)定的五個電壓下測量每一單元的刻度因數(shù)。在整個電壓范圍內(nèi)，每一單元的刻度因數(shù)變化不應超過±1%。
3）組裝的轉(zhuǎn)換裝置在最大工作電壓下應無可見電暈。
c）、d）、e）的試驗都是一種經(jīng)濟簡便的試驗，但不滿足c），d），e）的試驗要求也未必表示測量系統(tǒng)是非線性的。在此情況下，就應采用a）或b）試驗。符合a）或b）試驗的極限要求的測量系統(tǒng)，
盡管并不滿足c）、d）、e）試驗的極限要求，也應認為是線性的。
7.2.3 測量階躍波響應（被要求時）
轉(zhuǎn)換裝置的階躍波響應應在能代表其工作條件（特別是對接地體和帶電體的凈距）的完整測量系統(tǒng)上進行測定。
試驗可在低電壓下進行，階躍波源的內(nèi)阻應小于被試系統(tǒng)輸入電阻的0.1%。
此外，可進行頻率響應試驗來證實上限頻率是足夠高的。
7.2.4 鄰近效應（轉(zhuǎn)換裝置任選項目）
接地體和帶電體的影響可由型式試驗來說明，其結果列成曲線和表格，表示轉(zhuǎn)換裝置刻度因數(shù)與其對接地體或帶電體凈距的函數(shù)關系。
7.3 性能試驗
應做下列試驗：
a）確定測量系統(tǒng)標定刻度因數(shù)；
b）動態(tài)特性；
c）干擾試驗。
7.3.1 確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)和標稱瞬間（動態(tài)特性）
7.3.1.1 標準方法
應采用4.5.2a）和4.5.3所列程序與標準測量系統(tǒng)相比對來確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)和動態(tài)特性。應采用兩個不同波形的沖擊來確定標稱瞬間，例如，對于沖擊全波：
a）較短的波前時間賦予tmin；
b）較長的波前時間賦予tmax；
c）這兩種波形都應有測量系統(tǒng)被認可的最長半峰值時間（或至90%以上的時間，或至零值時間，近似值）。
試驗所涉及的使用條件均應列入性能記錄內(nèi)。
此外，也可采用下述方法之一：
7.3.1.2 用同一種波形進行對比測量，另外補充階躍波晌應測量
應按4.5.2a）和4.5.3采用同一種波形和標準測量系統(tǒng)進行比對測量。到峰值的時間（或波前時間）應選在所要求的標稱瞬意內(nèi)，而半峰值時間（或至90%以上的時間，或至零值時間）則應為被認可測量系統(tǒng)的最長半峰值時間（或至90%以上的時間，或至零值時間）。
測量系統(tǒng)的階躍波響應除了應按4.7.8記錄外，還應符合下述要求：
階躍波響應在tmin~tmax范圍內(nèi)保持穩(wěn)定在±1%之內(nèi)，而且在tmin~tmax范圍內(nèi)的的變化不應大于5%，tmax為被認可系統(tǒng)的最長半峰值時間。
此外，若在標稱瞬間內(nèi)的階躍波響應上有高頻振蕩時，則足以證明穩(wěn)定時間ts是小于tmin的。
7.3.1.3 測量各組件的刻度因數(shù)并由階躍波響應確定響應參數(shù)
應按4.5.2b）確定測量系統(tǒng)的標定刻度因數(shù)。試驗所涉及的工作條件范圍應列在性能記錄內(nèi)
應按4.2.8記錄測量系統(tǒng)的階躍波響應。階躍波響應從tmin~Tp的范圍內(nèi)應穩(wěn)定在±1%范圍內(nèi)。Tp為測量標定刻度因數(shù)時，所用波形的峰值時間（例如，如果是采用1kHz交流電壓，則Tp為250µs）。
此外，階躍波響應在整個標稱瞬間內(nèi)應穩(wěn)定在±1%范圍內(nèi)，在直到測量系統(tǒng)被認可的最長半峰值時間（或至90%以上的時間，或至零值時間）區(qū)間內(nèi)的變化應不大于5%，穩(wěn)定時間ts應小于l0µs。
7.3.1.4 階躍波響應測量再曾補用交流高壓電測量標定刻度因數(shù)
如果被試系統(tǒng)的單位階躍波響應穩(wěn)定在±1%范圍內(nèi)，而且tmin~1/4f 也保持在±1%范圍內(nèi)（f 為確定刻度因數(shù)時所采用的交流電壓頻率），就應采用交流電壓來確定測量系統(tǒng)的刻度因數(shù)。
穩(wěn)定時間應小于10µs。
利用階躍響應來評定測量系統(tǒng)的特性時，性能記錄應包括：
a）單位階躍波響應記錄，應標出O1和相應于每一參考水平的水平線：
b）ts值。
7.3.2 干擾試驗
按4.5.4進行。
7.4 性能校核
目前還尚無標準方法來進行性能校核，這是由于其準確度達不到性能校核所需要求。使用者需要較高準確度時，應更為頻繁地（超過本部分要求）重復性能試驗。
7.4.1 校核刻度因數(shù)
可采用下述方法之一校核認可的測量系統(tǒng)的刻度因數(shù)：
7.4.1.1 校核各組件的刻度因數(shù)
應采用不確定度不大于±1%的內(nèi)部或外部校準器校核每一組件的刻度因數(shù)。如果刻度因數(shù)與其前值之差不大于±1%，則可認為該標定刻度因數(shù)是有效的。如果有一個差值超過±1%，則應再次確定標定刻度因數(shù)（見4.2）。
7.4.1.2 校核測量系統(tǒng)刻度因數(shù)
應采用4.5.2a）的程序與另一認可的測量系統(tǒng)或標準測量系統(tǒng)進行比對。或應與符合GB/T 311.6又用火花照射的球隙進行比對。不可認為用紫外線燈照射就足夠了。
如果測得的刻度因數(shù)之差不大于3%（對于標準測量裝置比對是5%），則可認為該刻度因數(shù)是有效的。如果差值較大，則應再次確定標定刻度因數(shù)（見4.5.2）。
每一時間參數(shù)測得值應在另一測量系統(tǒng)相應測得值的（1±10%）范圍內(nèi)，如果差值大于10%，則應再次確定標稱瞬間（見4.5.3）。
7.4 .2 動態(tài)特性校核
每次校核時都應獲取參考記錄所采用的同一方式和同樣線路來記錄階躍波響應。階躍波響應的記錄應與原先校核記錄相比較�？梢灶A料，每次校核會發(fā)現(xiàn)有小變化，合格的變化量應由早期的校核而確定。任何較大的變化都應先查明而后進行性能試驗。
此外，動態(tài)特性也可按照4.5.3程序與另一認可的測量系統(tǒng)（或標準測量系統(tǒng)）比對而校核。
7.5 標準測量裝置
符合GB/T 311.6又用放電火花照射的球隙是測量標準操作沖擊電壓峰值的標準測量裝置，其不確定度不大于±5%。應注意不可認為用紫外線燈照射就足夠了。球隙的操作沖擊破壞性放電電壓（50%破壞性放電電壓值）可取自GB/T 311.6—1983所列相同極性雷電沖擊電壓的圖表。
8 標準測量系統(tǒng)
8.1 標準測量系統(tǒng)的要求
8.1.1 雷電和操作沖擊全波電壓
沖擊全波電壓的標準測量系統(tǒng)在其使用范圍內(nèi)總的不確定度：對于沖擊全波峰值電壓應不大于±1%；對于時間參數(shù)應不大于±5%。應能適當?shù)赜涗浾袷幒瓦^沖。
8.1.2 雷電沖擊截波
2µs后截斷的沖擊截波電壓的標準測量系統(tǒng)應符合8.1.1的要求，在0.5µs~2µs范圍內(nèi)截斷的沖擊截波電壓的標準測量系統(tǒng)總不確定度：對于峰值電壓應為±3%范圍，對于時間參數(shù)應為±5%范圍。
8.2 標準測量系統(tǒng)的校準
應按8.1.1的試驗證實標準測量系統(tǒng)符合8.2.1所列的有關要求。此外，也可采用8.2.2的試驗。
8.2.1 標準方法（比對測量）
應按照經(jīng)由國內(nèi)或國際比對而自身可溯源的標準測量系統(tǒng)在高電壓下進行比對，來證實標準測量系統(tǒng)是滿足要求的。確定標準測量系統(tǒng)刻度因數(shù)的不確定度應不大于±0.5%。
8.2.2 替代法（測量刻度因數(shù)和評估響應參數(shù)）
應按4.5.2b）所列程序確定標準測量系統(tǒng)的刻度因數(shù)，其不確定度應不大于±0.5%。
響應參數(shù)應滿足表1要求。
表1 對響應參數(shù)的要求
|
參數(shù) |
雷電全波 |
波前截斷的雷電波 |
操作波 |
|
實驗響應時間TN
ns |
≤15 |
≤10 |
— |
|
穩(wěn)定時間
ns |
≤200 |
≤150 |
10µs |
|
部分響應時間Ta
ns |
≤30 |
≤20 |
— |
|
起始畸變時間T0
ns |
— |
≤2.5 |
— |
8.3 標準測量系統(tǒng)鑒定的有效周期
如無證據(jù)反對，每五年至少重復一次鑒定。
標準測量系統(tǒng)只被推薦用于性能試驗的比對試驗，但標準測量系統(tǒng)也可用于其他測量，包括日常例行使用，但必須證實如此使用不會影響其性能（本部分規(guī)定的性能校核足以對此驗證）。此外，也允許采用滿足有關國家標準的可等同的指示儀器或記錄儀器做代替。
附 錄A
（資料性附錄）
試 驗 一 覽 表
表A.1、表A.2分別匯總了測量雷電沖擊電壓和操作沖擊電壓所需的試驗。
表A.1 雷電沖擊測量系統(tǒng)的試驗
|
項目 |
型式試驗 |
例行試驗 |
性能試驗 |
性能校核 |
|
轉(zhuǎn)換裝置 |
傳輸系 統(tǒng)（1） |
儀器 （2） |
轉(zhuǎn)換 裝置 |
傳輸系 統(tǒng)（1） |
儀器 （2） |
系統(tǒng) |
系統(tǒng) |
|
元件 |
裝置 |
|
刻度因數(shù) |
— |
— |
— |
— |
4.2.1 6.2.1 |
4.3 6.2.1 |
4.4 6.2.1 |
4.5.2
6.3.1 |
4.2.1
4.5.2 |
|
線性度試驗 |
— |
— |
— |
— |
4.2.2 5.2.2 |
一 |
一 |
— |
— |
|
短期穩(wěn)定性 |
— |
— |
— |
— |
4.2.3 |
4.3 |
4.4 |
一 |
— |
|
長期穩(wěn)定性 |
4.2.4
6.2 |
4.2.4
6.2 |
4.3
6.2 |
4.4
6.2 |
— |
— |
— |
一 |
— |
|
溫度效應 |
4.2.5
6.2 |
4.2.5
6.2 |
4.3
6.2 |
4.4
6.2 |
— |
一 |
— |
— |
— |
|
鄰近效應 |
— |
4.2.6 |
— |
一 |
— |
— |
— |
— |
— |
|
動態(tài)特性 （3，4） |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
4.1.7
4.5.3
6.3.1 |
6.3.1
6.4 |
|
干擾試驗 |
— |
— |
— |
一 |
— |
— |
|
4.5.4
6.3.3 |
— |
|
干耐受試驗 （5） |
— |
4.2.9
6.2 |
— |
一 |
4.2.9 6.2 |
— |
— |
— |
— |
|
最大施加次 數(shù) |
— |
4.2.3
6.2 |
— |
— |
一 |
一 |
— |
— |
一 |
|
試驗重復率 |
從資料或樣機上的一次性試驗 |
一次 |
每年一次 （6）
（推薦性） |
根據(jù)經(jīng)驗 |
|
注：括號表示的含義：
（1）—帶有源元個的；
（2）—測量儀器應符合相應標準要求；
（3）—階躍波響應；
（4）—幅—頻響應；
（5）—干耐受試驗；
（6）—如果需要每年一次或至少五年一次，每次修理后，若試驗布置超出了性能記錄或惹生能校核結果超出了性能記錄規(guī)定值時。 |
表A.2 操作沖擊測量系統(tǒng)的試驗
|
項目 |
型式試驗 |
例行試驗 |
性能試驗 |
性能校核 |
|
轉(zhuǎn)換裝置 |
傳輸系 統(tǒng)（1） |
儀器 （2） |
轉(zhuǎn)換 裝置 |
傳輸系 統(tǒng)（1） |
儀器 （2） |
系統(tǒng) |
系統(tǒng) |
|
元件 |
裝置 |
|
刻度因數(shù) |
— |
— |
— |
— |
4.2.1 7.2.1 |
4.3 7.2.1 |
4.4 7.2.1 |
4.5.2
7.3.1 |
4.2.1
4.5.2
7.4.1 |
|
線性度試驗 |
— |
— |
— |
— |
4.2.2 7.2.2 |
一 |
一 |
— |
— |
|
短期穩(wěn)定性 |
— |
— |
— |
— |
4.2.3 |
4.3 |
4.4 |
一 |
— |
|
長期穩(wěn)定性 |
4.2.4
7.2 |
4.2.4
7.2 |
4.3
7.2 |
4.4
7.2 |
— |
— |
— |
一 |
— |
|
溫度效應 |
4.2.5
7.2 |
4.2.5
7.2 |
4.3
7.2 |
4.4
7.2 |
— |
一 |
— |
— |
— |
|
鄰近效應 |
— |
4.2.6 |
— |
一 |
— |
— |
— |
— |
— |
|
動態(tài)特性 （3，4） |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
4.2.9
4.5.3
7.3.1 |
8.3.1
7.4.2 |
|
干擾試驗 |
— |
— |
— |
一 |
— |
— |
|
4.5.4
7.3.2 |
— |
|
干耐受試驗 （5） |
— |
4.2.9
7.2 |
— |
一 |
4.2.9 7.2 |
— |
— |
— |
— |
|
最大施加次 數(shù) |
— |
4.2.3
7.2 |
— |
— |
一 |
一 |
— |
— |
一 |
|
試驗重復率 |
從資料或樣機上的一次性試驗 |
一次 |
每年一次 （6）
（推薦性） |
根據(jù)經(jīng)驗 |
|
注：括號表示的含義：
（1）—帶有源元個的；
（2）—測量儀器應符合相應標準要求；
（3）—階躍波響應；
（4）—幅—頻響應；
（5）—干耐受試驗；
（6）—如果需要每年一次或至少五年一次，每次修理后，若試驗布置超出了性能記錄或惹生能校核結果超出了性能記錄規(guī)定值時。 |
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